Advanced

GaN-nanowire as probe for scanning tunneling microscopy

Samadi, Saber LU (2017) FYSK02 20172
Synchrotron Radiation Research
Department of Physics
Abstract
Scanning tunneling microscope (STM) has in recent years been one of the most used microscopy approaches in surface science. The STM probe allows for the investigation of atomic resolution electrical properties of a material, these probes are usually of metallic characters. In this project, efforts have been made to investigate how good semi-conducting materials are as scanning probes. GaN-nanowires are used as probes for scanning tunneling microscopy, where a single GaN-nanowire was positioned on top of a tungsten tip, using a nanowire manipulator.
Popular Abstract (Swedish)
Nanoteknologi är ett område där man växa strukturer på ett kontrollerat sätt i nanometer skala. Dessa strukturer även kallad för nanotrådar har genom de senaste åren revolutionerat den teknologiska världen. Genom en bred användning av nanotrådar i tex, våra mobiltelefoner, solpaneler och mm, så har dessa objekt med sin elektriska förmåga gett upphov till snabbare och mer effektivare elektronik.
Nanotrådar består av halvledare material och är väldigt användbara eftersom dess elektriska ledningsförmåga går att styras från isolerande (icke ledande) till metalliskt (ledande).
Nanotrådar har en tjocklek i nanometer skala och har en läng på flera mikrometer.
I den här uppsatsen kommer vi att använda nanotrådar som skanningsspets för... (More)
Nanoteknologi är ett område där man växa strukturer på ett kontrollerat sätt i nanometer skala. Dessa strukturer även kallad för nanotrådar har genom de senaste åren revolutionerat den teknologiska världen. Genom en bred användning av nanotrådar i tex, våra mobiltelefoner, solpaneler och mm, så har dessa objekt med sin elektriska förmåga gett upphov till snabbare och mer effektivare elektronik.
Nanotrådar består av halvledare material och är väldigt användbara eftersom dess elektriska ledningsförmåga går att styras från isolerande (icke ledande) till metalliskt (ledande).
Nanotrådar har en tjocklek i nanometer skala och har en läng på flera mikrometer.
I den här uppsatsen kommer vi att använda nanotrådar som skanningsspets för sveptunnelmikroskop.
Under årtalen så har forskare visat stort intresse till att undersöka väldigt små föremål, för att kunna göra det har man uppfunnit nya och starka mikroskop. En av dessa uppfinningar, så kallad sveptunnelmikroskop har förändrat forskningens värld, där man på ett väldigt unikt sätt kan undersöka materialets yta.
Tekniken som gör mikroskopen så unikt baserar sig på den kvantmekaniska tunneleffekten.
Tunneleffekten sker då en energirik partikel kommer till en barriär och istället för att partikeln ska ta sig över barriären så går den genom barriären och på så sätt förlorar en del av energin. Den kvantmekaniska tunneleffekten är förbjuden inom klassisk fysik.
I sveptunnelmikroskop så sker tunneleffekten mellan skanningsspetsen och ytan på materialet och genom att flytta skanningsspetsen över ytan med hög precision kan man mäta hur många elektroner som tunnlar och på så sätt visualisera var atomer finns och även undersöka dess elektroniska egenskaper (se figure1).
Vanligen brukar man använda sig av skanning spetsar med metalliska egenskaper, och för att våra trådar ska vara bra kandidater för användning som skanningspets behöver dessa trådar uppfylla vissa egenskaper, så som hårdhet och ledningsförmåga. (Less)
Please use this url to cite or link to this publication:
author
Samadi, Saber LU
supervisor
organization
alternative title
GaN-nanowire as probe for STM
course
FYSK02 20172
year
type
M2 - Bachelor Degree
subject
keywords
Scanning tunneling microscopy, Scanning tunneling spectroscopy, Nanowires, Galium Nitride
language
English
id
8939827
date added to LUP
2018-08-08 18:40:42
date last changed
2018-08-08 18:40:42
@misc{8939827,
  abstract     = {Scanning tunneling microscope (STM) has in recent years been one of the most used microscopy approaches in surface science. The STM probe allows for the investigation of atomic resolution electrical properties of a material, these probes are usually of metallic characters. In this project, efforts have been made to investigate how good semi-conducting materials are as scanning probes. GaN-nanowires are used as probes for scanning tunneling microscopy, where a single GaN-nanowire was positioned on top of a tungsten tip, using a nanowire manipulator.},
  author       = {Samadi, Saber},
  keyword      = {Scanning tunneling microscopy,Scanning tunneling spectroscopy,Nanowires,Galium Nitride},
  language     = {eng},
  note         = {Student Paper},
  title        = {GaN-nanowire as probe for scanning tunneling microscopy},
  year         = {2017},
}